ISSN 2255-2316
Side panel
You are currently using guest access
Log in
OCW
Font size
A-
A
A+
Site color
R
A
A
A
Skip to main content
OCW
Side panel
Home
Courses by field
Other OCW sites
MIT OCW
Universitat Oberta de Catalunya OCW
OCW de la Universidad Politécnica de Madrid
Universitat d'Alacant OCW
OCW UPV/EHU
More
You are currently using guest access
Log in
Home
Courses by field
Other OCW sites
Collapse
Expand
MIT OCW
Universitat Oberta de Catalunya OCW
OCW de la Universidad Politécnica de Madrid
Universitat d'Alacant OCW
OCW UPV/EHU
Users
Expand all
Collapse all
Open course index
Ingeniaritzako metodo estatistikoak [2012/05] [eus]
Topic 3
Topic 3
Section outline
IKASTEKO MATERIALAK
Select activity 1.Gaia: Estatistika deskribatzailea.
1.Gaia: Estatistika deskribatzailea.
File
Select activity 1.Gaia: Estatistika deskribatzailea. Inprimatzeko bertsioa.
1.Gaia: Estatistika deskribatzailea. Inprimatzeko bertsioa.
File
Select activity 2.Gaia: Probabilitatea.
2.Gaia: Probabilitatea.
File
Select activity 2.Gaia: Probabilitatea. Inprimatzeko bertsioa.
2.Gaia: Probabilitatea. Inprimatzeko bertsioa.
File
Select activity 3.Gaia: Probabilitate-banaketa diskretuak.
3.Gaia: Probabilitate-banaketa diskretuak.
File
Select activity 3.Gaia: Probabilitate-banaketa diskretuak. Inprimatzeko bertsioa.
3.Gaia: Probabilitate-banaketa diskretuak. Inprimatzeko bertsioa.
File
Select activity 4.Gaia: Probabilitate-banaketa jarraituak.
4.Gaia: Probabilitate-banaketa jarraituak.
File
Select activity 4.Gaia: Probabilitate-banaketa jarraituak. Inprimatzeko bertsioa.
4.Gaia: Probabilitate-banaketa jarraituak. Inprimatzeko bertsioa.
File
Select activity 5.Gaia: Erregresioa.
5.Gaia: Erregresioa.
File
Select activity 5.Gaia: Erregresioa. Inprimatzeko bertsioa.
5.Gaia: Erregresioa. Inprimatzeko bertsioa.
File
